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新生儿惊厥 起因

新生儿惊厥是怎么回事?

  新生儿惊厥疾病病因

一、病因:

  随着诊断技术的进步,新生儿惊厥的病因学不断充实,近年来缺氧缺血性脑病(HIE)已跃居病因的首位,而感染和代谢因素的比重较早年有所下降,引起新生儿惊厥的病因很多,根据发生率递减分9类,以前4类最常见。

  1.围生期并发症:HIE,颅内出血,脑损伤。

  2.感染:各种病原体所致脑膜炎,脑炎,脑脓肿,感染中毒性脑病,破伤风,高热。

  3.代谢因素:低血钙,低血镁,低血钠,高血钠,低血糖,碱中毒,维生素B6缺乏症,核黄疸,尿毒症。

  4.脑缺氧:肺透明膜病,胎粪吸入综合征,肺出血,急性心源性脑缺血综合征,高血压,红细胞增多症,捂热综合征。

  5.颅脑异常:先天性脑发育不良,颅脑畸形,颅内肿瘤。

  6.先天性酶缺陷:枫糖尿病,尿素循环障碍,高甘氨酸血症,丙酸血症,甲基丙二酸血症,异戊酸血症,半乳糖血症,维生素B6依赖症。

  7.家族性:良性家族性癫痫,肾上腺白质萎缩,神经皮肤综合征,Zellwegen综合征,Smith-Lemli-Opitz综合征。

  8.药物:兴奋剂,异烟肼,氨茶碱,局麻药,有机磷,撤药综合征。

  9.原因不明:约占新生儿惊厥的3%。

  值得注意的是,有的患儿可同时有多种病,如缺氧缺血性脑病可合并低钙血症,低镁血症或低钠血症等。

  二、发病机制:

  新生儿惊厥的发生率高,而且其表现形式和脑电图方面也与成人和儿童有很大不同,与新生儿中枢神经系统发育尚不成熟,易受各种病理因素的刺激而产生异常放电,和在大脑皮质受损处于高度抑制状态时,又易出现皮质下中枢异常放电或脑干释放现象(brain stem release phenomena)有关,同时,新生儿大脑皮质的分层及神经元的胞膜,胞浆分化不全,树突,突触,髓鞘的形成亦不完善,神经元与神经胶质之间的正常联系尚未建立,当皮质局部出现异常放电时,不易向邻近部位传导和扩散,更不易扩散至对侧半球引起同步放电,故新生儿惊厥时全身强直性的抽搐很少见。

  惊厥发作需要一群神经元的同步放电,即兴奋的神经元的数量需要达到一定的阈值,新生儿大脑皮质神经元的细胞膜的通透性较强,钠离子易进入,钾离子易漏出,而膜的钠钾泵功能和ATP水平明显低于成熟的神经元,不易迅速有效地泵出钠离子又重新极化,而处于相对的高极化状态,较难产生迅速的重复放电和引起附近神经元的同步放电,故新生儿期皮质性惊厥相对少见,有时仅少数神经元放电,未达到引起临床惊厥的阈值,构成仅有脑电图异常放电而无临床惊厥表现的亚临床型。

  新生儿大脑颞叶和间脑,脑干,边缘系统,海马,黑质,网状激活系统等皮质下结构发育比较成熟,其氧化代谢较大脑更旺盛,对缺氧最敏感,在各种病理因素刺激下,甚易出现皮质下惊厥,表现为阵发性的口,颊,眼皮的微小抽动,凝视,眼球的异常运动,和自主神经性发作如流涎,瞳孔,面色,呼吸,心率和血压的改变等,皮质下惊厥的发作机制,可能源于皮质下灰质的异常放电,这种深部的异常放电,脑电图的头皮电极不能发现;或源于大脑受损处于高度抑制状态时的脑干释放现象,临床上60%~90%的惊厥患儿无皮质的异常放电,故脑电图的阳性发现有助确诊,未见异常放电不能否定惊厥。

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